本系统提供实验室等级的LED量测系统。使用高精刻度的光谱、稳定的A光源、设计精良的光强分布箱、侦测器、积分球、及人性化的电脑操作软件，提供全光谱、色温、色度、波长、功率、光强度、光强分布、及照度等的全功能自动控制，达到需要的待测物各种光参数的量测。本系统由积分球、侦测器、光谱仪、电流计、光强分布箱、及电脑控制为主要元件，搭配开发之控制软体，在简易的操作介面之下，担高测试准确度。并可达到自行校正波长及照度校正。选用本系统进行LED晶片生产及封装厂已有科学园区多家厂商。 此套系统使用的是扫描（scanning)式的光谱仪，解析度高，量测稳定。为了满足使用者多样的需求，提供了不同的测度项目，包括了IV，（X，Y），λd，λp，TC，CRI，FWHM，IP，VF，IR，IF，VF与THY。它也能测量不同形式的LED，例如LED CHIP，SMD，LAMP，MODULE，LED DISPLAY。 测试项目及规格 量测项目 规格 Reverse Current (逆向电流) (IF) 0-1,00uA Reverse basic voltage（逆向电压）(Vf) 0-50Vprogrammable Forward Current (顺向电流) (IF) 0.1-1000mA Forward basic voltage(顺向电压 )(Vf) 0-20Vprogrammable Peak Wavelength(尖峰波长)(λp) 350-1050nm Luminance intensity(光强度) 0-50,000mcd Radiance intensity (辐射强度) 0-5000mW/sr Color Temperature(色温) 1000-20,000K Dominant Wavelength(主波长) (λd) 400-700nm Chromaticity coordiantes(色度坐标) CIE (x,y) Correlated Color temperature (相对色温) CCT,1,000-100,000K Purtiy(度) FWHM(半宽波长) 0-200nm Center Wavelength(中心波长) 350-1050nm Centroid Wavelength(重心波长) 350-1050nm CRI(演色指数) 0- 适用范围 *LED晶片厂研发部及品管部，LED封装厂研发部及品管部，LED来料检验 *度到小数点4位小数，是实验室等级的光谱仪。随机附精密校正档及光学计算分析软体程序（DLLs）可用于对其他的仪器做校正用，提供全光谱、色温、色度、波长、CRI及光强度等全功自动控制，达到需要的待测物各种光参数的量测。 系统特色 *全自动化量测设计，操作介面简单 *使用者可自行与标准样品校正，无须负担庞大的校正费用 *软体可配合使用者的习惯或需要做部分修改； *可产生各种使用者所需单色光谱光源及功率 *采用CIE 1931, 和CIE1976 U.C.S标准及演算等方法 系统硬件 型号 规格 光谱仪 ARC SP-150,400-1100nm,解析度0.1nm optimum积分球 ISP-050,50mm积分球 Picoanmeter電流計 Keithley#6485 电源供应器 Keithley#2400 optimum system controller Windows系统自动控制操作程式 software driver,desktop pcg LCD monitor console软体规格为VisualBasic 6.0开发,相容Windows 98以上版本 optical components 侦测器,三色光源,光源箱,光纤及其他光学配件 测试画面